|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Инженерная физика Аннотация к статье << Назад
ИССЛЕДОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТИ МИКРОКАНАЛЬНЫХ СТРУКТУР И ЗАГОТОВОК НА НАНОУРОВНЕ |
Д.Г. САМКАНАШВИЛИ
В статье приводятся результаты исследования поверхности заготовок исходных оптических стекол, используемых в производстве микроканальных пластин (МКП), а также внутренней поверхности канала с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Полученные результаты позволяют оценивать изменения топологии поверхности от факторов технологических операций. Результаты работы интересны тем, что оценка качества поверхности ранее в канале и на поверхности пластин не проводилась. Учет всех этих факторов позволяет наметить пути достижения атомно-гладкой поверхности каналов, что будет способствовать уменьшению уровня шумов и повышению усиления МКП, а, следовательно, увеличению дальности действия приборов ночного видения.
Ключевые слова: микроканальная пластина, сканирующий зондовый микроскоп, топология поверхности, ликвация, топология поверхности.
DOI: 10.25791/infizik.02.2019.480
Контактная информация: E-mail: nis@baspik.com
Стр. 35-38. |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |