|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Инженерная физика Аннотация к статье << Назад
АСМ-исследование поверхности кристалла висмута после технологической обработки |
О.И. Марков, Ю.В. Хрипунов
Методами атомно-силовой микроскопии исследована структура поверхности кристалла висмута после разных видов обработки.
Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, поверхность, висмут.
Контактная информация:
E-mail: O.I.Markov@mail.ru.
Стр. 20-24.
|
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |