 |
advertisement |
|
|
|
|
|
|
|
Engineering Physics Annotation << Back
|
COMPUTER DESIGN OF P, B AND AS NANODOMAINS IN SI WAFER RELIEF |
G.A. TARNAVSKY
Computer simulation of nanotechnology of doping (by ion implantation method) in nanocolumns of silicon wafer relief is conducted. The effect of basic process parameters (implantation energy and implant type) on position and configuration of phosphorus, boron and arsenic doping-domains is investigated. Keywords: Nanotechnologies, computer simulation, implantation, doping impurities, silicon.
E-mail: Gennady.Tarnavsky@gmail.com |
|
|
|
Last news:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |