|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Инженерная физика Аннотация к статье << Назад
ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И СВОЙСТВ ПЛЕНОК SIOX, ПОЛУЧЕННЫХ ХИМИЧЕСКИМ ТРАВЛЕНИЕМ ЛЕНТ АМОРФНОГО СПЛАВА |
В.А. ФЕДОРОВ, А.Д. БЕРЕЗНЕР, А.И. БЕСКРОВНЫЙ, Т.Н. ФУРСОВА, А.В. ПАВЛИКОВ, А.В. БАЖЕНОВ
Исследовано строение и физические свойства аморфных пленок SiOx, полученных химическим травлением аморфного ленточного сплава на основе железа. Нейтронная дифракция, а также атомно-силовая и электронная микроскопия показывают, что полученные визуально прозрачные пленки имеют аморфную структуру схожую с морфологией опалов и обладают диэлектрическими свойствами. Методами дифференциально-сканирующей калориметрии, рамановской и ИК-спектроскопии была проведена оценка степени упорядоченности в структуре образцов до и после их термической обработки. Установлено, что отжиг пленок в воздушной среде, при температуре 1273 K, приводит к изменению их химического состава в сторону соединения SiO2, с включениями фазы кристобалита.
Ключевые слова: аморфные пленки SiOx, нейтронная дифракция, атомно-силовая и электронная микроскопия, дифференциально-сканирующая калориметрия, рамановская и ИК-спектроскопия, фаза кристобалита.
DOI: 10.25791/infizik.01.2019.387
Контактная информация: E-mail: fedorov@tsu.tmb.ru
Стр. 03-10. |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |