|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Инженерная физика Аннотация к статье << Назад
Методика функционального тестирования сбис микроконтроллеров и микропроцессоров при проведении радиационных испытаний |
А.В. Лебедев, И.И. Шагурин
Разработана методика испытаний на радиационную стойкость микроконтроллеров и микропроцессоров, обеспечивающая проверку функционирования основных функциональных блоков и выявление их отказов. Данная методика использована для испытания образцов 8-разрядных микроконтроллеров AT89S8252, PIC16C774, ATmega128.
E-mail: alexey_l@mail333.com |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |